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土壤電阻率詳解
土壤電阻率是接地工程計(jì)算中一個(gè)常用的參數(shù)，直接影響接地裝置接地電阻的大小、地網(wǎng)地面電位分布、接觸電壓和跨步電壓。本文講述土壤電阻率詳解
2011-05-20
土壤電阻 電阻率 導(dǎo)電離子
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電阻選型與應(yīng)用知識系列大講臺(tái)—電阻檢測與失效分析
在制造業(yè)中，按照設(shè)計(jì)圖紙?jiān)谘b配系統(tǒng)的時(shí)候往往會(huì)遇到零部件損壞了，或者失效了，從而降低了系統(tǒng)的生產(chǎn)效率。電阻雖小，但是作用不容忽視，如何判斷一個(gè)電阻有沒有存在問題，在電路設(shè)計(jì)中至關(guān)重要，往往會(huì)關(guān)系到系統(tǒng)的穩(wěn)定性。本講將從電阻的檢測和失效分析談起，下一講將在此基礎(chǔ)上對電阻的選型進(jìn)...
2011-05-19
電阻 檢測 失效分析
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MEMS產(chǎn)業(yè)日本震后率先復(fù)原
據(jù)IHS iSuppli公司的最近的研究顯示，日本地震與海嘯沖擊全球產(chǎn)業(yè)供應(yīng)鏈將近兩個(gè)月之后，全球微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)產(chǎn)業(yè)完全復(fù)原，相對來說幾乎未受到這次嚴(yán)重災(zāi)害的打擊。
2011-05-19
MEMS 復(fù)原 地震
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Marvell推出A19球泡燈和PAR38射燈“Turn-key”設(shè)計(jì)方案
近日，LED驅(qū)動(dòng)芯片新銳供應(yīng)商Marvell繼推出其數(shù)字反激式PFC控制芯片88EM8081的評估板、多種功率規(guī)格LED驅(qū)動(dòng)電路參考設(shè)計(jì)之后，又特別針對中國市場強(qiáng)勢推出基于這顆驅(qū)動(dòng)芯片的高度優(yōu)化交鑰匙（Turn-key）設(shè)計(jì)方案和燈泡實(shí)物，旨在幫助中國LED照明廠商降低設(shè)計(jì)成本，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的快速上市，特別是海外中...
2011-05-19
Marvell A19 PAR38 Turn-key
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LED Expo Pack亮相2011上海新光源新能源照明展覽會(huì)暨論壇，熱鬧非凡
作為采購工程師和研發(fā)工程師的必備采購工具—LED Expo Pack首次在上海地區(qū)——2011上海國際新光源&新能源照明展覽會(huì)暨論壇發(fā)行，在展會(huì)期間引起了巨大的轟動(dòng)。在CNT展位，我們安排2名專職工作人員接待觀眾，介紹LED Expo Pack，收取信息查詢表格。同時(shí)，我們還安排2名CNT專職工作人員在等芯片/外延片生...
2011-05-19
Expo Pack 上海 新光源 新能源 LED照明
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PCB設(shè)計(jì)仿真
在最新開發(fā)的仿真軟件包中，用戶可以從最流行的PCB布局工具中看到完整的布線設(shè)計(jì)。布線回顧功能會(huì)檢查所有板層、網(wǎng)絡(luò)或者跡線的各種各樣的設(shè)計(jì)原則。本文講述PCB設(shè)計(jì)EMC仿真...
2011-05-19
PCB 設(shè)計(jì) 仿真
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電快速瞬變脈沖群抗擾度解決方法
產(chǎn)品處于此種復(fù)雜化的電磁環(huán)境中，彼此正常工作顯得尤為重要，而手機(jī)在此環(huán)境中能夠正常工作且不會(huì)影響其它設(shè)備，其電磁兼容性尤為重要，因此必須對手機(jī)進(jìn)行電磁兼容性進(jìn)行測試，來保證手機(jī)的電磁兼容性能。本文講述電快速瞬變脈沖群抗擾度解決方法...
2011-05-19
瞬變脈沖群 抗擾度 測試標(biāo)準(zhǔn)
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太陽能市場惡化 Evergreen Solar恐閉門歇業(yè)
美國太陽能電池制造商Evergreen Solar繼關(guān)廠后，再度發(fā)布警訊，業(yè)者表示當(dāng)前公司資金水位偏低，恐閉門歇業(yè)。Evergreen Solar遞交證交所資料報(bào)導(dǎo)，業(yè)者表示對于公司未來12個(gè)月能否維持營運(yùn)抱持高度存疑，主要?dú)w咎于2個(gè)原因，一來是因?yàn)榭蛻舸罅咳∠唵?，另一方面則是因?yàn)樘柲墚a(chǎn)品市場持續(xù)惡化。
2011-05-18
Evergreen Solar 太陽能市場 產(chǎn)品 資金
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集成電路EMC測試方法
由于集成電路通過高速的脈沖數(shù)字信號來進(jìn)行工作，工作頻率越高產(chǎn)生的電磁騷擾頻譜越寬，越容易引起對外輻射的EMC方面的問題。本文講述集成電路EMC測試方法
2011-05-18
集成電路 EMC 測試方法
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