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測試測量

SRII推出兩款ALD新品，滿足泛半導體應用多功能性和靈活性的需求

原子層沉積（ALD）工藝被認為是邏輯和存儲半導體器件微縮化的重要推動力。過去20年，ALD工藝及設(shè)備已經(jīng)廣泛應用于邏輯和存儲器件的大批量制造，不斷推動諸如動態(tài)隨機存取存儲器（DRAM）、先進的鰭式場效應晶體管（FinFET）以及柵極環(huán)繞晶體管等器件性能的改進與創(chuàng)新。隨著摩爾定律放緩，ALD工藝逐漸...

2022-01-26

SRII ALD 泛半導體

高頻共模電流、電壓和阻抗的測量 —— 以反激變換器為例

在電力電子的EMI分析與建模中，若要得到準確的結(jié)果，一個至關(guān)重要的前提是能夠準確測量出噪聲源與傳播路徑上的阻抗。對于輻射EMI來說，通常的對應頻段在30MHz到1GHz之間，由于頻率很高，其電壓，電流，阻抗等參數(shù)的測量容易有較大的誤差。

2022-01-25

高頻共模電流測量反激變換器

如何利用LTpowerCAD電阻分壓器工具提高電源輸出調(diào)節(jié)精度

本文將演示如何為設(shè)計選擇正確的電源容差。具體來說，本文將使用LTpowerCAD電阻分壓器工具箱來展示如何使用元件容差并估算輸出電壓中的相應誤差。有了這些信息，設(shè)計人員就能正確決定其應用允許的容差。

2022-01-24

LTpowerCAD 電阻分壓器

示波器測量發(fā)動機雙可變氣門正時波形

可變氣門正時VVT，是一種用于汽車活塞式發(fā)動機中的技術(shù)。VVT技術(shù)可以調(diào)節(jié)發(fā)動機進氣排氣系統(tǒng)的重疊時間與正時，降低油耗并提升效率。

2022-01-21

示波器發(fā)動機雙可變氣門正時波形

2022亞太區(qū)企業(yè)存儲關(guān)鍵趨勢展望

鑒于全球各國正奮力應對新冠疫情，2022年將有望成為復蘇的一年。在新的一年里，商務(wù)差旅將逐步回溫，各種規(guī)模的面對面會議將重回議程，公司也將采取辦公室和居家相結(jié)合的混合辦公模式。那么，在企業(yè)存儲領(lǐng)域，我們預期又會迎來哪些趨勢呢？在本文中，我將分享基于與客戶探討所得出的廣泛預期，將這...

2022-01-19

亞太區(qū) 存儲趨勢

ScaleFlux為高性能數(shù)據(jù)庫提供超密集的計算存儲解決方案

作為大規(guī)模部署計算存儲的領(lǐng)導者，ScaleFlux于近日宣布其旗艦CSD 2000解決方案與Supermicro的FatTwin?（一種高密度4U多節(jié)點系統(tǒng)）相契合——提供了一個完全集成的高性能、經(jīng)濟高效的平臺，非常適合部署Redis on Flash (RoF)。

2022-01-17

ScaleFlux 數(shù)據(jù)庫存儲方案

為什么主機廠愈來愈重視CAN一致性測試？

由于CAN總線各節(jié)點質(zhì)量的不一致而引發(fā)的系統(tǒng)癱瘓、錯誤、死機等問題，會嚴重影響車輛的安全性，主機廠對CAN一致性的關(guān)注度也越來越高，本文將針對CAN一致性測試進行探討。

2022-01-14

主機 CAN 一致性測試

軟件可配置的模擬I?O助力更緊湊更方便的校準器設(shè)計

工業(yè)模擬I?O模塊用于和工廠內(nèi)的傳感器、執(zhí)行器之間實現(xiàn)精準、低電平的電壓信號與電流信號的收發(fā)。同所有電子器件一樣，長時間的重復使用和不斷變化的環(huán)境條件會導致其性能下降，因此需要對其進行定期校準以確保其能夠按照既定標準持續(xù)運行。

2022-01-13

模擬I?O 校準器設(shè)計

運算放大器測試基礎(chǔ)之輸入偏置電流的兩種測試方法

本文我們將探討輸入偏置電流的兩種測試方法。選擇哪種方法要取決于偏置電流的量級。我們將介紹器件測試過程中需要考慮的各種誤差源。本系列的下篇文章將介紹一款可配置測試電路，其可幫助您完成本文所介紹的所有測量。

2021-12-30

運算放大器輸入偏置電流測試方法

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